19-05-2020
導(dǎo)致焊接后測試探針接觸不良的因素及避免方法
1、導(dǎo)致焊接后測試探針接觸不良的因素電路板線內(nèi)測試時(shí),有可能因?yàn)榛睾笟埩舳a(chǎn)生接觸不良的問題,這當(dāng)然...
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