1、導致焊接后測試探針接觸不良的因素

電路板線(xiàn)內測試時(shí)，有可能因為回焊殘留而產(chǎn)生接觸不良的問(wèn)題，這當然是因為測試探針與測試焊墊或焊點(diǎn)間出現了絕緣的殘留物。由于破壞臭氧層以及工作健康安全的考慮，同時(shí)也包括要嘗試節約成本，因此免洗制程技術(shù)迅速地成為SMT組裝的主流技術(shù)。能免除清洗程序不但可以避免因使用清洗劑造成的污染，而且也排除了清洗的步驟工序與所有的必要成本。

另外為了進(jìn)一步提升免洗制程的優(yōu)勢，已經(jīng)逐步不用波焊技術(shù)而只采用回焊處理。但是在業(yè)界所產(chǎn)生的主要問(wèn)題不是電路板焊接特性或產(chǎn)品的可靠度，而是線(xiàn)內測試的問(wèn)題。由于在電路板上有助焊劑殘留物，探針可能無(wú)法刺穿殘留物，或者很快就被殘留物沾附而終致不能產(chǎn)生電氣連接。尤其是測試位置在引腳末端或通孔零件引管腳末端的部分，這種狀況會(huì )更嚴重。顯然助焊劑殘留物，是這個(gè)問(wèn)題最重要的影響原因之一。

當然也有人提到可以用加大探針壓力來(lái)克服這個(gè)問(wèn)題，但是面對可能損及產(chǎn)品焊接點(diǎn)以及探針本身，同時(shí)整體的作業(yè)成本與治具的壽命也都考驗著(zhù)這樣做法的適用性。

2、避免的方法

經(jīng)由電路板測試機對錫膏殘留物量的影響研究發(fā)現，設備可探測性與探針穿透性，對以空氣回焊的系統而言，焊墊可探測性會(huì )隨殘留物數量的遞增而下降。這種結果是可以理解的，因為留在焊墊上的助焊劑殘留物愈多探針越不能產(chǎn)生有效連結。下圖所示，為典型的助焊劑殘留的狀態(tài)。

但是這種趨勢無(wú)法判斷引腳末端的探測性及通孔的穿透性，在這些區域錫膏殘留物數量就不一定是主要因素，而是別的性質(zhì)控制了探針可測性。這些性質(zhì)包括：助焊劑殘留物的頂部擴散、底部擴散、硬度等等因素。

在頂部助焊劑擴散方面，助焊劑擴散性越好焊墊上殘留物就愈少，有理由推估焊墊的可探測性會(huì )隨擴散性的遞增而增加。但是在實(shí)際的狀況下，所發(fā)生的現象與推測相反，頂部助焊劑擴散性與焊墊可探測性成反比。

這種反常的狀況是因為另外一個(gè)影響因素所致，高殘留物量的錫膏不但對助焊劑的擴散性有影響，同時(shí)也對焊墊上產(chǎn)生較厚的殘留物沈積，這樣才導致較低的焊墊可探測值產(chǎn)生。

在底部助焊劑擴散方面，雖然與焊墊可探測性或通孔穿透性沒(méi)有直接的趨勢可以區別，但它與引腳末端的可探測性的確存在著(zhù)明顯的關(guān)系。引腳的可探測性值底部助焊劑擴散遞增而增加，也隨殘留物量下降而增加。

這樣現象的理論基礎是滴下機構，在電路板焊接時(shí)錫膏殘留物會(huì )有低固含量和低黏度。在通孔中低的黏度將讓助焊劑從錫膏中流出，并在底面周邊迅速地擴散。助焊劑在底面進(jìn)一步擴散，就會(huì )有較少的助焊劑堆積在引腳處，因此測試探針很容易可以穿透。